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Ausschreibung: Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser) - DE-Frankfurt (Oder)
Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
Dokument Nr...: 162914-2017 (ID: 2017042909055988321)
Veröffentlicht: 29.04.2017
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  DE-Frankfurt (Oder): Laborgeräte, optische Geräte und Präzisionsgeräte (außer Gläser)
   2017/S 84/2017 162914
   Auftragsbekanntmachung
   Lieferauftrag
   Richtlinie 2014/24/EU
   Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
   I.1)Name und Adressen
   IHP GmbH  Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
   Im Technologiepark 25
   Frankfurt (Oder)
   15236
   Deutschland
   Kontaktstelle(n): Beschaffung
   Telefon: +49 335-5625-359
   E-Mail: [1]rohner@ihp-microelectronics.com
   Fax: +49 335-5625-25359
   NUTS-Code: DE411
   Internet-Adresse(n):
   Hauptadresse: [2]www.ihp-microelectronics.com
   I.2)Gemeinsame Beschaffung
   I.3)Kommunikation
   Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und
   vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter:
   [3]https://vergabemarktplatz.brandenburg.de/VMPCenter/company/announcem
   ents/categoryOverview.do?method=search&searchString=%22CXSTYYDYYLW%22
   Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen
   Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten
   Kontaktstellen
   I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
   Andere: Forschung und Entwicklung
   I.5)Haupttätigkeit(en)
   Andere Tätigkeit: Forschung und Entwicklung
   Abschnitt II: Gegenstand
   II.1)Umfang der Beschaffung
   II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:
   Scattering Scan-Nahfeld-Mikroskopie.
   Referenznummer der Bekanntmachung: IHP-2017-038
   II.1.2)CPV-Code Hauptteil
   38000000
   II.1.3)Art des Auftrags
   Lieferauftrag
   II.1.4)Kurze Beschreibung:
   Das Scoring-Typ Scanning Near-Field-Mikroskop-Tool sollte in der Lage
   sein, die Bildgebung und Spektroskopie von Standard-Halbleiterproben,
   2D-Materialien, organischen und anorganischen Materialien und
   Biomaterialien durchzuführen. Die Arbeit des Werkzeugs sollte auf dem
   Standard-Atomkraft-Mikroskopie-Werkzeug basieren, wobei die AFM-Spitze
   zur Sonde verwendet wird und die darunter befindliche Probe abgebildet
   wird. Die ankommende elektromagnetische Strahlung auf der Spitze sollte
   fokussiert oder nano fokussiert auf das Material unter ihm sein. Der
   Fokus der Spitze sollte in der Größenordnung von Nanometern liegen.
   In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform
   zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools
   erwähnt.
   II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
   II.1.6)Angaben zu den Losen
   Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
   II.2)Beschreibung
   II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
   II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
   II.2.3)Erfüllungsort
   NUTS-Code: DE411
   Hauptort der Ausführung:
   IHP GmbH  Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik; Im
   Technologiepark 25; 15236; Frankfurt (Oder).
   II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
   Das Scoring-Typ Scanning Near-Field-Mikroskop-Tool sollte in der Lage
   sein, die Bildgebung und Spektroskopie von Standard-Halbleiterproben,
   2D-Materialien, organischen und anorganischen Materialien und
   Biomaterialien durchzuführen. Die Arbeit des Werkzeugs sollte auf dem
   Standard-Atomkraft-Mikroskopie-Werkzeug basieren, wobei die AFM-Spitze
   zur Sonde verwendet wird und die darunter befindliche Probe abgebildet
   wird. Die ankommende elektromagnetische Strahlung auf der Spitze sollte
   fokussiert oder nano fokussiert auf das Material unter ihm sein. Der
   Fokus der Spitze sollte in der Größenordnung von Nanometern liegen.
   In der folgenden Liste wird die Anforderung der Mikroskopie-Plattform
   zusammen mit verschiedenen Imaging-Tools und Spektroskopie-Tools
   erwähnt.
   Plattform:-
    Apertureless Nahfeld-Scan-Technologie für hochwertige optische
   Bildgebung und Spektroskopie von Halbleitern, Biomolekülen, organischen
   Polymeren, ohne Verwendung von Fasern.
    Fähigkeit, Frequenzbereich von sub-THz bis hin zu sichtbarem Spektrum
   zu akzeptieren
    Anforderung an eine hochstabile Atomkraftmikroskopie (AFM) optimierte
   Einrichtung, die für alle Proben geeignet ist, die mit der
   Standard-AFM-Technik kompatibel sind. Standard AFM Probenvorbereitung
   erforderlich
    räumliche Auflösung in der Größenordnung von 10 nm. Die räumliche
   Auflösung sollte durch die AFM-Spitze definiert werden.
    Das Werkzeug sollte modular sein, wo verschiedene Bild- und
   Spektroskopiemodule hinzugefügt werden können, um die Funktionalität
   des Werkzeugs zu erhöhen
   Imaging und Detektion System: -
    Fähigkeit zur Abbildung im visuellen Spektrum und
   MID-IR-Spektrumbereiche.
    Fähigkeit zur elektrischen Feldabbildung von organischen,
   anorganischen, Halbleiterproben und plasmonischen
   Strukturcharakterisierung.
    Fähigkeit zur Charakterisierung von 2D-Halbleitern mit
   Empfindlichkeit bis zur Einzelmonoschicht.
    Sollte die Nano-Imaging-Fähigkeit mit austauschbaren sichtbaren
   Strahlengang-Konfiguration und MID-IR-Strahlengang Konfiguration.
    Anforderung eines interferometrischen Strahlengangs für optische
   Amplituden- und Phasendetektion.
    Anforderung von Reflexions- und Getriebeerkennungsmodulen.
    Die Module sollten in der Lage sein, den Frequenzbereich von Sub-THz
   zu sichtbarem Spektrum zu erfassen.
    Anforderung einer modularen und austauschbaren Strahlteileranordnung
   für unterschiedliches Betriebs- betrieb.
    Für den interferometrischen Strahlengang für Amplituden- und
   Phasenmessungen sollte der Detektor in der Lage sein, eine Amplituden-
   und Phasenauflösungserfassung zu ermöglichen.
    Abmessungen der Bodenbeleuchtung für den Transmissionsmodus-Detektor
   möglich.
    Der Übertragungsmodus-Detektor sollte für die Wellenwellenbeleuchtung
   geeignet sein.
   Nahfeld-Spektroskopie-Modul (FTIR)
    Fähigkeit des Nahfeldes Nano FTIR.
    Das FTIR-Modul sollte auch interferometrisches Design aufweisen, das
   gleichzeitig den Brechungsindex und die Extinktion messen kann.
    Ermöglicht das Erreichen eines hohen Signal-Rausch-Verhältnisses des
   Spektroskopiesignals durch Entkoppeln des Hintergrund-Rauschens.
   TeraHertz Zeitbereich Spektroskopie
    Fähigkeit, Nahfeld Tera Hertz Bildgebung und Spektroskopie.
    Ermöglicht die Messung des Frequenzbereichs von 0,1 THz bis 3 THz.
    Fähigkeit der Zeitdomäne THz Spektroskopie.
    Die Arbeit des Werkzeuges sollte auf dem Femtosekunden-Laser
   basieren.
   II.2.5)Zuschlagskriterien
   Der Preis ist nicht das einzige Zuschlagskriterium; alle Kriterien sind
   nur in den Beschaffungsunterlagen aufgeführt
   II.2.6)Geschätzter Wert
   II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
   dynamischen Beschaffungssystems
   Laufzeit in Monaten: 2
   Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
   II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
   Varianten/Alternativangebote sind zulässig: nein
   II.2.11)Angaben zu Optionen
   Optionen: nein
   II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
   II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
   Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
   das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
   II.2.14)Zusätzliche Angaben
   Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische
   Angaben
   III.1)Teilnahmebedingungen
   III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen
   hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister
   III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
   Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:
    Bescheinigung in Steuersachen.
   Der AG behält sich vor Auftragsvergabe vor, eine Anfrage bei dem
   zuständigen Anti-Korruptionsregister sowie beim
   Gewerbezentralregisteramt durchzuführen.
   III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
   Auflistung und kurze Beschreibung der Eignungskriterien:
   Um die erforderliche technische und berufliche Leistungsfähigkeit des
   Bewerbers oder Bieters überprüfen zu können benötigen wir folgende
   Unterlagen:
   1. Referenzen:
   Es werden vergleichbare auftragsbezogene Firmenreferenzen in Bezug zur
   ausgeschriebenen Leistung erwartet. Vergleichbar heißt
   Referenzen in Zusammenarbeit mit dem Auftrag.
   Die Referenzen sind als Art Referenzbescheinigung durch den Bieter mit
   den folgenden Angaben mit der Angebotsabgabe einzureichen:
    Referenzgeber:
    Zeitraum Beginn/Ende der Ausführung:
    Kurzbeschreibung des Auftragsumfangs:
   2. Beschreibung der technischen Ausrüstung, der Maßnahmen zur
   Qualitätssicherung und der Untersuchungs- und Forschungsmöglichkeiten
   des Unternehmens,
   3. Erklärung, aus der ersichtlich ist, über welche Ausstattung, welche
   Geräte und welche technische Ausrüstung das Unternehmen für die
   Ausführung des Auftrags verfügt,
   III.1.5)Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen
   III.2)Bedingungen für den Auftrag
   III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:
   III.2.3)Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal
   Abschnitt IV: Verfahren
   IV.1)Beschreibung
   IV.1.1)Verfahrensart
   Offenes Verfahren
   IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen
   Beschaffungssystem
   IV.1.4)Angaben zur Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer oder
   Lösungen im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs
   IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion
   IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
   Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein
   IV.2)Verwaltungsangaben
   IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
   IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
   Tag: 02/06/2017
   Ortszeit: 12:00
   IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur
   Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber
   IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge
   eingereicht werden können:
   Deutsch, Englisch
   IV.2.6)Bindefrist des Angebots
   Das Angebot muss gültig bleiben bis: 30/06/2017
   IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote
   Tag: 02/06/2017
   Ortszeit: 12:00
   Ort:
   Frankfurt (Oder).
   Abschnitt VI: Weitere Angaben
   VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags
   Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein
   VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
   VI.3)Zusätzliche Angaben:
   Die Vergabeunterlagen finden Sie auf dem Vergabemarktplatz Brandenburg
   [4]http://vergabemarktplatz.brandenburg.de
   Sie können sich gern freiwillig auf der Vergabeplattform
   Vergabemarktplatz Brandenburg registrieren und die Vergabeunterlagen
   dort herunterladen.
   Dies bietet Ihnen den Vorteil, dass Sie automatisch über Änderungen in
   den Vergabeunterlagen oder über Antworten auf Fragen zum
   Vergabeverfahren informiert werden.
   Registrieren Sie sich nicht, besteht eine entsprechende Holschuld, das
   heißt, Sie müssen sich selbstständig informieren, ob die
   Vergabeunterlagen zwischenzeitlich geändert wurden und ob wir
   Bieterfragen zum Vergabeverfahren beantwortet haben.
   Wir weisen darauf hin, dass für das Stellen einer Frage zum Verfahren
   und für das Abgeben eines Angebotes und  sofern im konkreten Verfahren
   einschlägig  für das Einreichen eines Teilnahmeantrages oder für das
   Abgeben einer Interessenbestätigung ohnehin eine Registrierung
   unumgänglich ist.
   Die Teilnahmeunterlagen und Angebotsunterlagen müssen scannbar
   eingereicht werden und sollten nicht gebunden oder geklammert werden.
   Bekanntmachungs-ID: CXSTYYDYYLW.
   VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
   VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
   Vergabekammer des Landes Brandenburg beim Ministerium für Wirtschaft
   und Europaangelegenheiten
   Heinrich-Mann-Allee 107
   Potsdam
   14473
   Deutschland
   Telefon: +49 331/866-1719
   Fax: +49 331/866-1652
   VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
   IHP GmbH  Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
   Im Technologiepark 25
   Frankfurt (Oder)
   15236
   Deutschland
   Telefon: +49 335-5625-359
   E-Mail: [5]rohner@ihp-microelectronics.com
   Fax: +49 335-5625-25359
   VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
   VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen
   erteilt
   IHP GmbH  Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
   Im Technologiepark 25
   Frankfurt (Oder)
   15236
   Deutschland
   Telefon: +49 335-5625-359
   E-Mail: [6]rohner@ihp-microelectronics.com
   Fax: +49 335-5625-25359
   VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
   27/04/2017
References
   1. mailto:rohner@ihp-microelectronics.com?subject=TED
   2. http://www.ihp-microelectronics.com/
   3. https://vergabemarktplatz.brandenburg.de/VMPCenter/company/announcements/categoryOverview.do?method=search&searchString=%22CXS
TYYDYYLW%22
   4. http://vergabemarktplatz.brandenburg.de/
   5. mailto:rohner@ihp-microelectronics.com?subject=TED
   6. mailto:rohner@ihp-microelectronics.com?subject=TED
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