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Ausschreibung: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke - DE-München
Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
Dokument Nr...: 160145-2017 (ID: 2017042809031984780)
Veröffentlicht: 28.04.2017
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DE-München: Diverse Maschinen und Geräte für besondere Zwecke
2017/S 83/2017 160145
Vorinformation
Diese Bekanntmachung dient der Verkürzung der Frist für den Eingang der
Angebote
Lieferauftrag
Richtlinie 2014/24/EU
Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
I.1)Name und Adressen
Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e. V.
über Vergabeportal eVergabe
Hansastr. 27 c
München
80686
Deutschland
E-Mail: [1]fraunhofer@deutsche-evergabe.de
NUTS-Code: DE212
Internet-Adresse(n):
Hauptadresse: [2]http://www.fraunhofer.de
Adresse des Beschafferprofils: [3]http://www.deutsche-evergabe.de/
I.2)Gemeinsame Beschaffung
I.3)Kommunikation
Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen
Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten
Kontaktstellen
I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
Andere: Forschungsgesellschaft e. V.
I.5)Haupttätigkeit(en)
Andere Tätigkeit: Forschung und Entwicklung
Abschnitt II: Gegenstand
II.1)Umfang der Beschaffung
II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:
Mess- und Sortierautomat für Leistungshalbleiterchips in Waffelpack und
auf Substraten.
Referenznummer der Bekanntmachung: E_059_273001 grg-AHö FMD
II.1.2)CPV-Code Hauptteil
42990000
II.1.3)Art des Auftrags
Lieferauftrag
II.1.4)Kurze Beschreibung:
Folgende Funktionen soll die Anlage bereitstellen: Eingabestation für
bis zu 20 Waffelpacks in eine geeignete Aufnahme (z. B. Kassette)
Automatisches Vermessen von Leistungshalbleiter-Chips bis 14x14 mm
hinsichtlich folgender Kriterien: Diodenvorwärtsspannung Vf
Threshold-Spannung Vth Fortsetzung in II.2.4).
II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
II.1.6)Angaben zu den Losen
Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
II.2)Beschreibung
II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
II.2.3)Erfüllungsort
NUTS-Code: DE3
Hauptort der Ausführung:
13355 Berlin.
II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
Ergänzung zu II.1.4) Gate-Source Leckstrom Igsleak Drain-Source
Leckstrom Idsleak bis mind. 1 200V Rdson-Bestimmung für Chips bis
mind. 10A (gepulst) Aussortieren von defekten Halbleitern (nach
Idsleak, Rdson) und Sortieren der intakten in vorgegebene Gruppen (nach
Vth) Automatisches Vermessen von oben genannten Kriterien für
Aufbauten auf Substraten bis 400A (gepulst).Die Anlage soll unter
Berücksichtigung des Personenschutzes für die Aufgaben die nötigen
Medien, elektrische Quellen und Senken, Prober, Messtechnik und
Umgebungseigenschaften für die Benutzung in Grauraum bereitstellen, um
unter definierten Bedingungen die Leistungshalbleiter vermessen zu
können. Erwartet wird vom Auftragnehmer eine schnelle Kommunikation,
Erfahrung im Bereich der Messtechnik, insbesondere der
Leistungselektronikmesstechnik, Automatisierungstechnik.
II.2.5)Zuschlagskriterien
II.2.6)Geschätzter Wert
II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
dynamischen Beschaffungssystems
Laufzeit in Monaten: 3
II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
II.2.11)Angaben zu Optionen
II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
II.2.14)Zusätzliche Angaben
II.3)Voraussichtlicher Tag der Veröffentlichung der
Auftragsbekanntmachung:
25/05/2017
Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische
Angaben
III.1)Teilnahmebedingungen
III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen
hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister
III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
III.1.5)Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen
III.2)Bedingungen für den Auftrag
III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:
III.2.3)Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal
Abschnitt IV: Verfahren
IV.1)Beschreibung
IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen
Beschaffungssystem
IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion
IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: ja
IV.2)Verwaltungsangaben
IV.2.5)Voraussichtlicher Beginn der Vergabeverfahren:
Abschnitt VI: Weitere Angaben
VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
VI.3)Zusätzliche Angaben:
Detaillierung erfolgt mit der Veröffentlichung des Vergabeverfahrens.
VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
Vergabekammer des Bundes beim Bundeskartellamt
Villemombler Straße 76
Bonn
53123
Deutschland
VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:
Solange ein wirksamer Zuschlag (Vertragsschluss) noch nicht erteilt
ist, kann als Rechtsbehelf ein Nachprüfungsantrag bei der unter VI 4.1
genannten Stelle gestellt werden. Bewerber/Bieter müssen
Vergaberechtsverstöße unverzüglich bei der unter I.1) genannten
Vergabestelle rügen, bevor sie einen Nachprüfungsantrag stellen. Wir
weisen ausdrücklich auf die Antragsfrist des §160 Gesetz gegen
Wettbewerbsbeschränkungen (GWB) hin. Bieter, deren Angebote nicht
berücksichtigt werden soll, werden vor dem Zuschlag gem. §134 GWB
informiert.
VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen
erteilt
VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
27/04/2017
References
1. mailto:fraunhofer@deutsche-evergabe.de?subject=TED
2. http://www.fraunhofer.de/
3. http://www.deutsche-evergabe.de/
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