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Ausschreibung: Mikroskope - DE-Bonn
Mikroskope
Dokument Nr...: 153955-2017 (ID: 2017042509042077428)
Veröffentlicht: 25.04.2017
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  DE-Bonn: Mikroskope
   2017/S 80/2017 153955
   Auftragsbekanntmachung
   Lieferauftrag
   Richtlinie 2014/24/EU
   Abschnitt I: Öffentlicher Auftraggeber
   I.1)Name und Adressen
   Deutsche Forschungsgemeinschaft e. V., Zentrale Beschaffungsstelle
   Kennedyallee 40
   Bonn
   53175
   Deutschland
   Kontaktstelle(n): Deutsche Forschungsgemeinschaft
   Telefon: +49 2288852474
   E-Mail: [1]Ute.Breuer@dfg.de
   Fax: +49 2288853676
   NUTS-Code: DEA22
   Internet-Adresse(n):
   Hauptadresse: [2]www.dfg.de
   I.2)Gemeinsame Beschaffung
   I.3)Kommunikation
   Die Auftragsunterlagen stehen für einen uneingeschränkten und
   vollständigen direkten Zugang gebührenfrei zur Verfügung unter:
   [3]http://www.dfg.de/foerderung/programme/infrastruktur/wgi/zentrale_be
   schaffungsstelle/index.html
   Weitere Auskünfte erteilen/erteilt die oben genannten Kontaktstellen
   Angebote oder Teilnahmeanträge sind einzureichen an die oben genannten
   Kontaktstellen
   I.4)Art des öffentlichen Auftraggebers
   Andere: e. V.
   I.5)Haupttätigkeit(en)
   Andere Tätigkeit: Forschungsförderung
   Abschnitt II: Gegenstand
   II.1)Umfang der Beschaffung
   II.1.1)Bezeichnung des Auftrags:
   Lieferung eines Rasterkraftmikroskops.
   Referenznummer der Bekanntmachung: SFB 1249/2017 (A 740)
   II.1.2)CPV-Code Hauptteil
   38510000
   II.1.3)Art des Auftrags
   Lieferauftrag
   II.1.4)Kurze Beschreibung:
   Es soll ein Rasterkraftmikroskop zur Bestimmung intrinsischer
   Ladungsträgermobilitäten in hochgeordneten, selbstorganisierenden
   Monolagen (SAMs) organischer Halbleiter-Moleküle (OSCs) angeschafft
   werden. Neben der Messung kleinster Ströme (HR-CAFM bis in
   Sub-100-fA-Bereich) mit hoher lateraler Auflösung unter Schutzgas soll
   das AFM auch zur lithographischen, elektrochemisch-gestützten
   Herstellung zweidimensionaler, hochgeordneter SAMs mit definierter
   Größe und Form in ethanolischem bzw. wässrigem Medium bis hinunter in
   den Sub-µm- bzw. den nm-Bereich genutzt werden. Dabei wird die
   AFM-Spitze als Lithographiewerkzeug verwendet und das elektrische Feld
   zur Herstellung der SAMs in einer elektrochemischen Flüssigzelle
   erzeugt. Die Datenerfassung (Strommessung, Materialkontrastdarstellung,
   Topographie) muss in einem Modus erfolgen, in dem eine kleinstmögliche,
   jedoch kontrollierbare mechanische Wechselwirkung der SAMs bzw.
   SAM-Moleküle mit der rasternden AFM-Spitze gewährleistet ist.
   II.1.5)Geschätzter Gesamtwert
   II.1.6)Angaben zu den Losen
   Aufteilung des Auftrags in Lose: nein
   II.2)Beschreibung
   II.2.1)Bezeichnung des Auftrags:
   II.2.2)Weitere(r) CPV-Code(s)
   II.2.3)Erfüllungsort
   NUTS-Code: DE12
   Hauptort der Ausführung:
   Karlsruhe.
   II.2.4)Beschreibung der Beschaffung:
   Das anzuschaffende Rasterkraftmikroskop soll als Tip-Scanner ausgelegt
   sein. Es muss eine minimale Drift des Scanners in xy-Richtung sowie ein
   minimales Rauschen in z-Richtung gewährleistet sein. Das Gerät soll in
   erster Linie der hochpräzisen Bestimmung von Leitfähigkeiten (sowohl im
   Kontakt-Modus, als auch im nicht-resonant oszillierenden
   Abbildungsmodus) von hochgeordneten, selbstorganisierenden,
   zweidimensionalen Monolagen (SAMs) organischer Halbleiter-Moleküle
   (OSCs) dienen. Diese leitfähigen SAM Inseln sollen in einer
   zweidimensionalen Matrix aus isolierenden Molekülen mittels der sog.
   Nanografting- bzw. Nanoshaving-Technik erzeugt werden, wobei die
   Position, Form und Größe der Inseln exakt definiert werden können. Dazu
   muss die AFM-Spitze mittels einer integrierten Lithographie-Software in
   einer mit ethanolischen oder wässrigen Lösungen gefüllten
   Perfusionszelle über die Oberfläche des Substrates geführt werden. Die
   Perfusionszelle muss dabei so beschaffen sein, dass die Erzeugung der
   hochgeordneten SAM-Inseln unter Zuhilfenahme eines elektrischen Feldes
   erfolgen kann (Elektrochemiezelle) und die anschließende hochpräzise
   Strommessung (nach dem Spülen und Trocknen) in der gleichen Zelle auch
   unter Schutzgas möglich ist.
   Um während der Strommessung die mechanische Wechselwirkung zwischen
   AFM-Spitze und den SAMs zu minimieren, ist die Anwendung eines
   oszillierenden Abbildungsmodus notwendig. Dabei soll in jedem
   Abtastzyklus zur Leitfähigkeitsmessung eine direkte Bestimmung der
   Abbildungskraft in Echtzeit (sowohl in Gasatmosphäre als auch in
   Flüssigkeit) erfolgen, worauf alle Abbildungsparameter automatisch und
   kontinuierlich optimiert werden. Die Anzahl der pro Zeiteinheit in
   diesem Modus erreichbaren Datenpunkte soll möglichst hoch sein ohne
   dabei an Messgenauigkeit (insbesondere Leitfähigkeit) zu verlieren.
   Mögliche Einflüsse wie z. B. die Änderung des Deflection Signals
   aufgrund von Cantileverdrift sollen automatisch und kontinuierlich
   eliminiert werden können. Um den Ladungstransport auf Bereichen mit
   sehr geringer Leitfähigkeit neben Bereichen mit höherer Leitfähigkeit
   auch quantitativ untersuchen zu können, muss das anzuschaffende AFM
   technisch die Möglichkeit bieten - ohne Änderung der Position der
   AFM-Spitze relativ zum Substrat - einen breiten Strombereich in ein und
   demselben Scanfeld gegebenenfalls mit unterschiedlichen
   Vorverstärkerstufen abzudecken und darzustellen, ohne dass dabei
   Umbaumaßnahmen erforderlich sind oder die Empfindlichkeit für Messungen
   sehr kleiner Ströme leidet.
   Für die spätere Wiederfindung und das Treffen von erzeugten
   Strukturen mit der AFM-Spitze ist (a) eine optische Live-Beobachtung
   (z. B. durch ein Mikroskop) sowie die Dokumentation (Aufnahme von
   Bildern mittels Kamera) der Position der AFM-Spitze relativ zur
   Substratoberfläche mit guter optischer Auflösung und großem
   Gesichtsfeld notwendig, bzw. (b) eine strikt vertikale Annäherung der
   Spitze an das Substrat erforderlich. Zur Identifizierung von
   Oberflächenbereichen oder SAMs mit unterschiedlichen Eigenschaften,
   werden nicht nur Leitfähigkeitsmessungen herangezogen, es sollen zudem
   komplementär und gleichzeitig auch Materialkontraste (Elastizität,
   Adhäsion, Reibung, Topographie) untersucht und simultan (Ort und Zeit)
   darstellbar sein. Eine motorisierte, freie Probenpositionierung muss
   vorhanden sein, ebenso die Möglichkeit, verschiedene Bereiche auf der
   Probe software-seitig vorzudefinieren, die dann automatisch von der
   AFM-Spitze angesteuert und untersucht werden. Ein xy-Scanbereich, der
   die Abbildung auch mehrerer Strukturen mit Dimensionen um die 10 µm
   ermöglicht, muss verfügbar sein. Das angebotene Gerät muss die Option
   zur Integration einer Temperatureinheit beinhalten, mit der das Gerät
   nachträglich ohne Umbaumaßnahmen oder Einschränkungen der Nutzbarkeit
   aufgerüstet werden kann. Die Bauweise des AFM muss offen gestaltet
   sein, sodass auch eigene experimentelle Aufbauten in das System
   integriert werden können.
   Jeder Anbieter muss auf Wunsch durch Messungen an Referenzproben des
   Endnutzers nachweisen, dass er die geforderten Spezifikationen erfüllt.
   II.2.5)Zuschlagskriterien
   Die nachstehenden Kriterien
   Qualitätskriterium - Name: Technischer Wert / Gewichtung: 50
   Preis - Gewichtung: 50
   II.2.6)Geschätzter Wert
   II.2.7)Laufzeit des Vertrags, der Rahmenvereinbarung oder des
   dynamischen Beschaffungssystems
   Laufzeit in Monaten: 3
   Dieser Auftrag kann verlängert werden: nein
   II.2.9)Angabe zur Beschränkung der Zahl der Bewerber, die zur
   Angebotsabgabe bzw. Teilnahme aufgefordert werden
   II.2.10)Angaben über Varianten/Alternativangebote
   Varianten/Alternativangebote sind zulässig: ja
   II.2.11)Angaben zu Optionen
   Optionen: nein
   II.2.12)Angaben zu elektronischen Katalogen
   II.2.13)Angaben zu Mitteln der Europäischen Union
   Der Auftrag steht in Verbindung mit einem Vorhaben und/oder Programm,
   das aus Mitteln der EU finanziert wird: nein
   II.2.14)Zusätzliche Angaben
   Zu II.2.7): Es handelt sich um einen einmaligen Lieferauftrag ohne
   Laufzeiten, das Formular erfordert in diesem Feld jedoch eine Eingabe.
   Abschnitt III: Rechtliche, wirtschaftliche, finanzielle und technische
   Angaben
   III.1)Teilnahmebedingungen
   III.1.1)Befähigung zur Berufsausübung einschließlich Auflagen
   hinsichtlich der Eintragung in einem Berufs- oder Handelsregister
   III.1.2)Wirtschaftliche und finanzielle Leistungsfähigkeit
   III.1.3)Technische und berufliche Leistungsfähigkeit
   III.1.5)Angaben zu vorbehaltenen Aufträgen
   III.2)Bedingungen für den Auftrag
   III.2.2)Bedingungen für die Ausführung des Auftrags:
   Anzahlungen bis zur Höhe von max. 50 % des Kaufpreises werden nur gegen
   unbefristete Bankbürgschaft nach deutschem Recht geleistet.
   III.2.3)Für die Ausführung des Auftrags verantwortliches Personal
   Abschnitt IV: Verfahren
   IV.1)Beschreibung
   IV.1.1)Verfahrensart
   Verhandlungsverfahren
   IV.1.3)Angaben zur Rahmenvereinbarung oder zum dynamischen
   Beschaffungssystem
   IV.1.4)Angaben zur Verringerung der Zahl der Wirtschaftsteilnehmer oder
   Lösungen im Laufe der Verhandlung bzw. des Dialogs
   IV.1.5)Angaben zur Verhandlung
   IV.1.6)Angaben zur elektronischen Auktion
   IV.1.8)Angaben zum Beschaffungsübereinkommen (GPA)
   Der Auftrag fällt unter das Beschaffungsübereinkommen: nein
   IV.2)Verwaltungsangaben
   IV.2.1)Frühere Bekanntmachung zu diesem Verfahren
   IV.2.2)Schlusstermin für den Eingang der Angebote oder Teilnahmeanträge
   Tag: 24/05/2017
   IV.2.3)Voraussichtlicher Tag der Absendung der Aufforderungen zur
   Angebotsabgabe bzw. zur Teilnahme an ausgewählte Bewerber
   Tag: 31/05/2017
   IV.2.4)Sprache(n), in der (denen) Angebote oder Teilnahmeanträge
   eingereicht werden können:
   Deutsch
   IV.2.6)Bindefrist des Angebots
   IV.2.7)Bedingungen für die Öffnung der Angebote
   Abschnitt VI: Weitere Angaben
   VI.1)Angaben zur Wiederkehr des Auftrags
   Dies ist ein wiederkehrender Auftrag: nein
   VI.2)Angaben zu elektronischen Arbeitsabläufen
   VI.3)Zusätzliche Angaben:
   Das Aktenzeichen entsprechend Ziff. II.1.1)) ist bei sämtlicher
   Korrespondenz anzugeben.
   Die vollständigen Unterlagen für den Teilnahmewettbewerb sind hier
   veröffentlicht. Weitergehende Auftragsunterlagen werden mit der
   Angebotsaufforderung nach dem Schlusstermin für Teilnahmeanträge
   versendet.
   Beim Schlusstermin laut Ziff. IV.2.2) handelt es sich um den
   Schlusstermin für den Eingang der Teilnahmeanträge (nicht für den
   Eingang der Angebote). Vor Ablauf des Schlusstermins gemäß Ziff.
   IV.2.2) werden keine Verdingungsunterlagen versendet.
   VI.4)Rechtsbehelfsverfahren/Nachprüfungsverfahren
   VI.4.1)Zuständige Stelle für Rechtsbehelfs-/Nachprüfungsverfahren
   Vergabekammer des Bundes
   Villemomber Straße 76
   Bonn
   53123
   Deutschland
   VI.4.2)Zuständige Stelle für Schlichtungsverfahren
   VI.4.3)Einlegung von Rechtsbehelfen
   Genaue Angaben zu den Fristen für die Einlegung von Rechtsbehelfen:
   Das GWB (Gesetz gegen Wettbewerbsbeschränkungen) verpflichtet uns, Sie
   zu gegebener Zeit über die beabsichtigte Auftragsvergabe zu
   informieren. Hiergegen haben Sie die Möglichkeit, innerhalb einer
   festgelegten Frist vor der Vergabekammer des Bundes, Villemombler Str.
   76, 53123 Bonn zu klagen. Im Falle einer fristgerechten Klage erbitten
   wir eine entsprechende Information.
   VI.4.4)Stelle, die Auskünfte über die Einlegung von Rechtsbehelfen
   erteilt
   VI.5)Tag der Absendung dieser Bekanntmachung:
   24/04/2017
References
   1. mailto:Ute.Breuer@dfg.de?subject=TED
   2. http://www.dfg.de/
   3. http://www.dfg.de/foerderung/programme/infrastruktur/wgi/zentrale_beschaffungsstelle/index.html
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             Database Operation & Alert Service (icc-hofmann) for:
       The Office for Official Publications of the European Communities
                The Federal Office of Foreign Trade Information
 Phone: +49 6082-910101, Fax: +49 6082-910200, URL: http://www.icc-hofmann.de
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